比比招標網> 招標公告 > 某單位征集硅冷卻臂加工試制供應商的公告(第二次)
| 更新時間 | 2025-08-25 | 招標單位 | 我要查看 |
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某單位征集硅冷卻臂加工試制供應商的公告(第*次)
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某單位征集硅冷卻臂加工試制供應商
的公告(第*次)
*、概述
某單位根據業務需要,公開征集硅冷卻臂加工試制的供應商,具體技術指標要求見。
*、供應商報名條件
*.具有獨立承擔民事責任的能力;
*.具有良好的商業信譽和健全的財務會計制度;
*.具有履行合同所必需的設備和專業技術能力;
*.有依法繳納稅收和社會保障資金的良好記錄;
*.參加本次采購活動前*年內,在經營活動中沒有重大違法記錄;
*.法律、行政法規規定的其他條件;
*.截止至首次響應文件提交截止日,供應商不得為“信用中國”網站(***.***********.***.**)中列入失信被執行人或重大稅收違法案件當事人名單的供應商,不得為“中國政府采購網”(***.****.***.**)政府采購嚴重違法失信行為記錄名單中被財政部門禁止參加政府采購活動的供應商(處罰期限尚未屆滿的)(以“信用中國”網站(***.***********. ***.**),“中國政府采購網”網站(***.****.***.**)采購人在首次響應文件提交截止之日至評審結束前的查詢記錄為準);
*.不屬于被中國工程物理研究院處以禁入處罰且處于禁止期內(以“中國工程物理研究院招投標信息網”網站(****://*****.****.**.**/)采購人在首次響應文件提交截止之日至評審結束前的查詢記錄為準);
*.資質要求:有效的**質量管理體系認證證書,認證范圍需覆蓋本產品;
**.不屬于為外資控股企業,法定代表人(含實際控股人)為中華人民共和國國籍,不具有境外永久居住權;
**.不得為從事代理、銷售等非科研生產性質的單位;
**.應為中華人民共和國境內登記注冊的企業法人或事業法人,有固定的經營活動場所,正常營業,取得和保持營業執照*年及以上,經營范圍需覆蓋本產品。
*、報名方式
*.報名時間:****年**月**日至****年**月*日每日**:**-**:**(北京時間,法定節假日除外),報名時供應商需完整填寫“供應商試制報名登記表”(公告中自行下載),并將其發送至聯系人郵箱。
報名聯系人:陳素芬
聯系電話:****-*******
電子郵箱:********@**.***
技術聯系人:李兆國,****-*******,***********
*、其他補充事宜
*.不需要現場報名。
*.提交“供應商試制報名登記表”后,有相關工作人員通知后續事宜。
*.如有疑問,請聯系指定聯系人。
*.所有試制費用由乙方自理。
*.最終解釋權歸我單位所有。
*
供應商試制報名登記表
項目名稱 | 硅冷卻臂加工 |
聯系人姓名 |
聯系電話
電子郵箱
資料郵寄地址
供應商信息
供應商名稱:
納稅人識別號:
開戶行:
賬號:
地址:
供應商(蓋章):
日前: 年 月 日
*
硅冷卻臂的技術指標要求
*.工作內容
硅冷卻臂加工試制及考核的技術工作主要包括加工制造和技術指標考核兩部分內容。試制單位負責按照表*至表*的指標以及*所提供的數據文件要求完成硅冷卻臂的加工制造和出廠測試,潔凈包裝運輸至甲方指定地點,甲方按照表*給出的檢測方法進行硅冷卻臂的指標測試,甲方測試結果為最終考核判定依據。
*. 試制對象
內圓直徑為Φ_*=****μ*的硅冷卻臂,至少提供*件。
*.指標要求
硅冷卻臂的結構示意圖如圖*所示(詳細尺寸見圖紙),其中黃色部分為金屬薄膜部分,藍色部分為雙面氧化的單晶硅。硅冷卻臂的主要技術指標見表*,與硅冷卻臂相關的名詞術語的定義見圖*。試制需至少提供*件樣品,甲方將對所有樣品所有指標進行測量。
圖*硅冷卻臂結構示意圖
圖*硅冷卻臂相關的名詞術語的定義
表*硅冷卻臂的主要技術指標
序號 | 項目名稱 | 技術指標要求(含公差) |
* | 卡爪內圓直徑與標稱值的偏差(未鍍金面)【注*】 | ±*μ* |
* | 卡爪內圓的圓度(未鍍金面) | ≤*μ* |
* | 側壁陡直度θ【注*】 | **°≤θ≤ **.*° |
* | 卡爪內側邊緣(雙面)的毛刺峰谷值【注*】 | ≤*μ* |
* | 所有卡爪平面度起伏 | ≤*μ* |
* | 單根信號線電阻 | ≤*Ω |
* | 任意兩根金線之間的絕緣電阻 | &**;***Ω |
* | 開孔 | 卡爪上開孔要貫穿 |
* | 硅冷卻臂缺陷等級 | *類缺陷類型詳見表*,*、*、*級為合格,*級為不合格。*類缺陷中出現*項*級,則將整個硅冷卻臂判定為不合格。 |
【注*】卡爪內圓定義為由**個卡爪的內側邊緣圍合形成的圓。試制件的卡爪內圓直徑設計值為****μ*,僅測量無金線*側的內圓直徑。
【注*】側壁陡直度定義為卡爪下平面(有金線*側)與卡爪內側面的夾角,如圖*所示。側壁陡直度的測量方法為:假設**個卡爪的內側面圍合形成*個圓錐面,通過測量卡爪上平面(無金線*側)的內圓直徑、卡爪下平面(有金線*側)的內圓直徑和硅冷卻臂厚度*,按如下公式計算得到側壁陡直度:
(*)
根據的定義及其允許范圍可以看出,有金線面的內圓直徑大于無金線面的內圓直徑。
圖*側壁陡直度的定義
【注*】毛刺定義為在刻蝕邊緣處的凹凸不平的微結構,僅測量卡爪內側邊緣的毛刺峰谷值,有金線面和無金線面均需測量,而且以**個卡爪內側邊緣的最大毛刺峰谷值定義為整個硅冷卻臂的毛刺峰谷值。毛刺示例見圖*。
圖*毛刺峰谷值的測量示例
*.硅冷卻臂考核要求
硅冷卻臂試制樣品的指標考核方法見表*。試制需至少提供*件樣品,甲方將對所有樣品所有指標進行測量。
表*硅冷卻臂參數檢測標準與檢測設備
序號 | 項目名稱 | 技術要求(含公差) | 檢測方法 | 檢測儀器 |
* | 卡爪內圓直徑與標稱值的偏差(未鍍金面) | 見表* | ****-**-**-****-******-**《硅冷卻臂檢驗工藝規程》 | 雙遠心平面尺寸測量頭 |
* | 卡爪內圓的圓度(未鍍金面) | 見表* | ****-**-**-****-******-**《硅冷卻臂檢驗工藝規程》 | 雙遠心平面尺寸測量頭 |
* | 側壁陡直度θ | 見表* | ****-**-**-****-******-**《硅冷卻臂檢驗工藝規程》 | 雙遠心平面尺寸測量頭、測量顯微鏡 |
* | 卡爪內側邊緣(雙面)的毛刺峰谷值 | 見表* | ****-**-**-****-******-**《硅冷卻臂檢驗工藝規程》 | 測量顯微鏡 |
* | 所有卡爪平面度起伏 | 見表* | ****-**-**-****-******-**《硅冷卻臂檢驗工藝規程》 | 光學輪廓儀 |
* | 單根信號線電阻 | 見表* | ****-**-**-****-******-**《硅冷卻臂清洗工藝規程》 | 數字萬用表 |
* | 任意兩根金線之間的絕緣電阻 | 見表* | ****-**-**-****-******-**《硅冷卻臂清洗工藝規程》 | 數字萬用表 |
* | 開孔 | 見表* | 直接測量 | 測量顯微鏡 |
* | 硅冷卻臂缺陷等級 | 見表* | 見表* | 測量顯微鏡 |
表*硅冷卻臂缺陷等級評定標準
序號 | 部位 | 要求 | 示例 |
* | 紅圈區域無缺陷定為*級,小缺陷定為*級,較大缺陷定為*、*級。 | ||
* | 紅圈區域無缺陷定為*級,小缺陷定為*級,較大缺陷定為*、*級。 | ||
* | 紅框區域出現較小缺陷,可認定為*級、*級,有較大缺陷定為*級、*級。 | ||
* | 紅圈區域出現較小缺陷,可認定為*級。 | ||
* | 紅圈區域出現較小缺陷,可認定為*級、*級,但是出現大缺陷、裂紋等只能認定為*級。 | ||
* | 紅圈區域有較小缺陷認定為*級、*級,有較大缺陷認定為*級。 | ||
* | 紅圈區域外,只要不影響傳感器后續裝配要求,均可算作*級。 | ||
* | 金絲 | 金絲有少量小孔洞、缺損不影響導電定為*級,直線部分金絲完全斷裂或者有橫穿性劃痕定為*級,有粘連的定為*級。 |
*.任務周期
****年*月*日,供應商報名結束;
****年*月**日,簽訂試制協議;
****年*月**日,試制單位完成樣件試制并交付至甲方;
****年**月**日,指標考核完成。
依據考核結果確定合格供方名單,可以參與甲方后續產品生產的招投標工作。